Profilografia

Profilografia
Polecane artykuły
Ciąg Fibonacciego Areometria Kalorymetria Metoda Rossa Rozstęp Metale szlachetne PH Próba (Towaroznawstwo) Kurtoza

Profilografia – metoda pomiaru gładkości powierzchni metalowych lub ceramicznych umożliwiająca zarejestrowanie w sposób trwały zarysu chropowatości za pomocą wykresu [I. Duda 1994, s. 132]. Pod nazwą ceramika rozumiemy obecnie nie tylko materiały pochodzące od glin, lecz także wiele innych materiałów nieorganicznych o podobnej do nich technologii wykonania i podobnych właściwościach [T. Masewicz, S. Wenda 1973, s 223].

Chropowatość jest natomiast stanem powierzchni, który charakteryzuje się drobnymi nierównościami o bardzo małych odległościach pomiędzy ich wierzchołkami. Chropowatość powierzchni rośnie wraz ze wzrostem wysokości tych nierówności; dla przedmiotów metalowych, z tworzyw sztucznych itp. chropowatość powierzchni określa się najczęściej przez podanie klasy chropowatości według PN/M-04251. Pojęciem przeciwstawnym do chropowatości jest gładkość powierzchni, przy czym im mniejsza chropowatość powierzchni, tym gładkość większa i odwrotnie [J. Zienkowicz i in. 1969 s. 106].

Przyrządem umożliwiającym zarejestrowanie chropowatości za pomocą wykresu jest profilograf [E. Sobol 1996, s. 902]. Wykres powstały na profilografie to profilogram, którego powiększenie pionowe (od kilkuset do około 100 000) jest wielokrotnie większe od poziomego. Z profilogramu odczytuje się parametry chropowatości. Profilografy działają na zasadzie pomiaru mechaniczno – elektrycznej lub mechaniczno – optycznej. Zakres pomiarowy na ogół waha się w granicach od 0,2 do 0,25 µm. Do najbardziej znanych należą profilogram Lewina, Lertz – Forstera, Ammona, Bruscha [T. Dobrzański i in. 1969, s. 604].

• Pojęciem związanym z profilografią jest też profilografometr, czyli grubościomierz umożliwiający zarówno szybkie mierzenie parametrów chropowatości (zasada profilometru), jak i sporządzanie profilogramów (zasada profilografów). Zakres pomiarowy waha się na ogół w granicach od 0,02 do 40 µm. Do najbardziej znanych należą profilografometr Taylor- Hobson i Perth Ometer [T. Dobrzański i in. 1969, s. 604].

Bibliografia:

• Dobrzański T. i in., Encyklopedia Techniki - budowa maszyn, Wydawnictwo Naukowo- Techniczne, Warszawa 1969
• Duda I., Słownik pojęć towaroznawczych, Wydawnictwo Akademii Ekonomicznej w Krakowie, Kraków 1994
• Masewicz T., Wenda S., Materiałoznawstwo radiotechniczne, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 1973
• Sobol E. Słownik wyrazów obcych, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1996
• Zienkowicz J. i in., Encyklopedia Techniki – materiałoznawstwo, Wydawnictwo Naukowo – techniczne, Warszawa 1996

Autor: Pawlak Agnieszka