Luka technologiczna: Różnice pomiędzy wersjami

Z Encyklopedia Zarządzania
Nie podano opisu zmian
Nie podano opisu zmian
Linia 34: Linia 34:
* Łobaziewicz M. (2008). [https://ojs.tnkul.pl/index.php/rns/article/view/11403 ''Luka techniczna i technologiczna a konkurencyjność gospodarki opóźnionej technologicznie''],''Roczniki Nauk Społecznyc'', tom XXXVI, Zeszyt 3, s. 198-200
* Łobaziewicz M. (2008). [https://ojs.tnkul.pl/index.php/rns/article/view/11403 ''Luka techniczna i technologiczna a konkurencyjność gospodarki opóźnionej technologicznie''],''Roczniki Nauk Społecznyc'', tom XXXVI, Zeszyt 3, s. 198-200
* Read R. (2006). ''Foreign Direct Investment & Multinational Enterprise II, Econ 405, Lecture 7'', Michaelmas: Lancaster Academy
* Read R. (2006). ''Foreign Direct Investment & Multinational Enterprise II, Econ 405, Lecture 7'', Michaelmas: Lancaster Academy
{{a|Aleksandra Woźniak}}


== Przypisy ==
== Przypisy ==

Wersja z 21:46, 30 lis 2022

At work.png

To jest zalążek artykułu.
Jeśli posiadasz kompetencje i uprawnienia, możesz go rozbudować.
Usuń tę informację po rozbudowie hasła

Luka technologiczna to rozmiar opóźnienia, względnie trwała różnica między poziomami potencjału technicznego i technologicznego dwu lub więcej gospodarek narodowych[1]. Jej tworzenie się i rozmiary są wypadkową dwóch procesów: kreacji innowacyjnych rozwiązań technologicznych przez liderów – innowatorów (tworzenie się lub narastanie luki) oraz dyfuzji innowacji i ich absorpcji przez imitatorów (domykanie luki)[2].

Teorie luki technologicznej

Formalnie luka techniczna i technologiczna została opisana już w latach 60. XX wieku w pracach badawczych M. V. Posnera (1961) oraz R. Vernona (1966).

  • Teoria Posnera opiera się na założeniu, że źródłem powstawania luki technicznej i technologicznej, z której monopolista (np. gospodarka danego kraju, sektor, przedsiębiorstwo) czerpie korzyści ekonomiczne, jest innowacja, a pojawiające się potem naśladownictwo ze strony konkurentów zmniejsza zyski oraz powstałą „tymczasową” przewagę konkurencyjną. O ile innowacja i monopol prowadzą do zachwiania równowagi rynkowej, to naśladownictwo ją przywraca[3].
  • R. Vernon oparł model teorii luki technicznej i technologicznej na cyklu życia produktu, na który składają się następujące etapy[4]:
  1. Faza „nowego produktu” – innowacje powstają w gospodarkach rozwiniętych, o wysokich dochodach w celu zaspokojenia popytu krajowego. Przedsiębiorstwo innowacyjne – innowator uzyskuje przewagę monopolistyczną oraz wysokie zyski.
  2. Faza „pełnej dojrzałości produktu” – kiedy popyt rośnie, produkt staje się standardowy, a przedsiębiorstwo osiąga efekt skali. Jednocześnie następuje dynamiczny wzrost eksportu, w wyniku czego produkt trafia na rynki zagraniczne. Wysokie bariery wejścia na rynek dają przewagę konkurencyjną.
  3. Faza „standaryzacji produktu” – pojawienie się przedsiębiorstw-naśladowców stopniowo osłabia przewagę innowatora, produkcja lokowana jest w krajach o najniższych kosztach pracy, przewaga rynkowa zostaje utrzymana poprzez wprowadzenie dyferencjacji produktu.

Z teorii Vernona wynika zatem, że kraje mające przewagę technologiczną są w stanie tworzyć nowe produkty, a kraje opóźnione technologicznie koncentrują się na produktach dojrzałych lub standardowych[5].

Czynniki wpływające na poziom luki technologicznej

Najważniejsze czynniki które wpływają na poziom luki technologicznej to[6]:

  • klimat społeczny,
  • system edukacyjny,
  • potencjał naukowy,
  • skala i jakość działalności badawczej,
  • natura rynku lokalnego,
  • jakość zarządzania oraz polityka rządu,
  • inne czynniki określające technologiczną pozycję danego kraju.

Pomiar luki technologicznej

Wskaźniki wykorzystywane do pomiaru wielkości i dynamiki luki technologicznej[7]:

  • Wydajność pracy mierzona jako PKB/zatrudnionego,
  • Struktura eksportu,
  • Wskaźnik terms of trade.

Bibliografia

Autor: Aleksandra Woźniak

Przypisy

  1. Encyklopedia PWN
  2. S. Kubielas 2009
  3. M. Łobaziewicz 2008, s.198
  4. R. Read 2006
  5. M. Łobaziewicz 2008, s.200
  6. D. Kornacka 2001, s.18
  7. D. Firszt 2010, s. 227-228